基于机器视觉的薄膜晶点测定系统

晶点是薄膜上常见的高聚物缺陷。它的存在对光学薄膜、电池薄膜等高端产品危害极大，人工视觉检测容易导致漏检和误检。因此，本文提出了一种基于机器视觉的薄膜晶体点测量系统。该系统利用条纹背光来突出晶点的特征，经过傅里叶变换后抑制光谱中条纹背景的频率，从而消除条纹背景，获得晶点轮廓。测量并校准摄像机，用最小矩形拟合晶点轮廓，并测量晶点大小。测量精度可达0.017mm。该系统实现了薄膜晶点的自动识别和测量，具有重要的工程应用价值和广阔的市场前景。